品牌中心
产品资料
日本日置LCR测试仪 IM3523
型号:
品牌:日本日置HIOKI
库存:0
详情介绍:
 资料下载


   规格书下载            说明书下载            软件下载            驱动下载


日本日置LCR测试仪 IM3523产品详细信息
日本日置LCR测试仪 IM3523概述

应用于生产线和自动化测试领域的理想选择

LCR测试仪IM3523测量方法:连续测量不同条件

在电容的测量条件中希望以120Hz测量C-D。希望以100kHz测量ESR。这时,使用1台告诉连续测量不同条件。

LCR测试仪IM3523测量方法:顺畅的进行生产线的设置更改的面板读取功能

为了使用1台LCR测试仪测量多种产品,要求高效率的更改设置。

IM3523的面板保存功能更,樶多保存60组测量条件,还能保存128个开路/短路补偿和线长补偿等的补偿值。使用面板功能读取所保存的测量条件。除了手动读取以外,可以使用外部控制端口控制面板编号的读取,因此能缩短构筑自动化检查产线的时间。

 

 

 

 

 

 

可靠的产线检查:接触检查功能

检查4端子测量时样品间的接触问题。

测量LPOT〜LCUR间和HPOT〜HCUR间的接触电阻,如果在所设置的阈值以上时则显示错误。

 

 

 

精度计算软件

仅需输入数值即可轻松计算精度。

日本日置LCR测试仪 IM3523特点

★ 基本精度±0.05%,测量范围广(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)
★ 在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下,可以以往产品10倍的速度不间断测试。
★ 内置比较器和BIN功能
★ 2ms的快速测试时间

日本日置LCR测试仪 IM3523选型指南

测量模式 LCR,连续测试
测量参数 Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC电阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q
测量量程 100mΩ~100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义)
可显示量程 Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp: ± (0.000000 [单位]* ~9.99999G [单位])(*为樶高分辩率时的显示位数) 只有 Z和Y显示真有效值 θ: ± (0.000°~999.999°), D: ± (0.00000~9.99999) Q: ± (0.00~99999.9), Δ%: ± (0.0000%~999.999%)
基本精度 Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°
测量频率 40Hz ~200kHz (1mHz ~10Hz)
测量信号电平 正常模式 V模式,CV模式: 5mV~5Vrms,1mVrms CC模式: 10μA~50mArms,10μArms
输出阻抗 正常模式:100Ω
显示 单色LCD
测量时间 2ms(1kHz,FAST,代表值)
功能 比较器,分类测量(BIN功能),面板读取/保存、存储功能
接口 EXT I/O(处理器),USB通信(高速) 选件:RS-232C,GP-IB,LAN任选一
电源 100~240V AC,50/60Hz,樶大50VA
尺寸及重量 260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg
附件 电源线×1,使用说明书×1,CD-R(包括PC指令和样本软件)×1

标题:
内容:
联系人:
联系电话:
Email:
公司名称:
联系地址:
 
 
注:1.可以使用快捷键Alt+S或Ctrl+Enter发送信息!
2.如有必要,请您留下您的详细联系方式!

苏公网安备 32050502000404号